Difração de raios X (XRD):
O LIETA está equipado com o sistema comercial D2 PHASER (Bruker), que é um difratômetro de bancada para realizar análises em amostras em pó e que opera na geometria Bragg-Brentano.
A Difração de Raios X (XRD) é uma técnica analítica muito utilizada na caracterização de compostos químicos e suas microestruturas em materiais cristalinos, pois ela fornece informações sobre as estruturas, as fases, a orientação, o tamanho médio de grãos, a cristalinidade, a tensão e os defeitos dos cristais presentes nas amostras. A difração de raios x tem sido amplamente utilizada na análise de sólidos desconhecidos e caracterização de materiais em diversas áreas como biologia, geologia, engenharia, ciências ambientais e ciência dos materiais para determinação de sólidos desconhecidos. Esta técnica utiliza da difração do feixe de raios X que incide sobre a amostra e que obedece a lei de Bragg.